Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces

• Tác giả: Thilo Glatzel, Sascha Sadewasser
• Ngôn ngữ: eng
• ISBN-10: 3642225659
• ISBN-13: 978-3642225659
• Ký hiệu phân loại: 502.82 Microscopy
• Thông tin xuất bản: Heidelberg ; New York : Springer-Verlag, 2012
• Mô tả vật lý: xiv, 331 p. : , ill. (some col.) ; , 24 cm.
• Bộ sưu tập: Khoa học tự nhiên
• ID: 107362
• Chủ đề: 1. Atomic force microscopy; 2. Electrostatics--Measurement; 3. Kelvin-Sonde; 5. Kraftmikroskopie; 6. Rasterkraftmikroskopie

Includes bibliographical references and index.