Electromigration in thin films and electronic devices : materials and reliability

• Tác giả: Choong-Un Kim
• Ngôn ngữ: eng
• ISBN-10: 1845699378
• ISBN-13: 978-0857093752
• ISBN-13: 978-1845699376
• Ký hiệu phân loại: 621.38152 Electrical, magnetic, optical, communications, computer engineering; electronics, lighting
• Thông tin xuất bản: Oxford ; Philadelphia : Woodhead Publishing, 2011
• Mô tả vật lý: xiii, 340 p. : , ill. ; , 25 cm.
• Bộ sưu tập: Khoa học ứng dụng
• ID: 107960
• Chủ đề: 1. Electrodiffusion; 2. Integrated circuits--Deterioration; 3. Interconnects (Integrated circuit technology); 4. Thin films