Quantum metrology with photoelectrons. Volume 1, Foundations

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Paul Hockett

Ngôn ngữ: eng

ISBN-13: 978-1681746845

ISBN-13: 978-1681746852

ISBN-13: 978-1681746869

Ký hiệu phân loại: 389.1 Metrology

Thông tin xuất bản: Bristol [England] (Temple Circus, Temple Way, Bristol BS1 6HG, UK) : IOP Publishing, 2018

Mô tả vật lý: 1 online resource (various pagings) : , illustrations (chiefly color).

Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở

ID: 161290

Since the turn of the century, the increasing availability of photoelectron imaging experiments, along with the increasing sophistication of experimental techniques, and the availability of computational resources for analysis and numerics, has allowed for significant developments in such photoelectron metrology. Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume 1: Foundations discusses the fundamental concepts along with recent and emerging applications.
Includes bibliographical references.
1. 
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH