Controlling Charge Carrier Lifetime in Defective WSe

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Jérôme Cornil, Reda Moukaouine, Anton Pershin, Amine Slassi

Ngôn ngữ: eng

Ký hiệu phân loại: 636.0885 Animal husbandry

Thông tin xuất bản: United States : The journal of physical chemistry letters , 2025

Mô tả vật lý:

Bộ sưu tập: NCBI

ID: 183676

Trap states induced by chalcogenide vacancies in defective transition metal dichalcogenide (TMDs) monolayers are detrimental to both the charge carrier lifetime and device efficiency. To address this, chemically functionalizing the surface of defective TMD monolayers is crucial. Experimental methods such as thiol grafting on chalcogenide vacancies, oxygen passivation, and the physisorption of electroactive molecules have been explored for defect healing. Our study, using ab initio time-domain density functional theory and nonadiabatic molecular dynamics, shows that C
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 36225755 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH