Data-driven Methods for Fault Localization in Process Technology

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Christian Kühnert

Ngôn ngữ: eng

ISBN-13: 978-3731500988

Ký hiệu phân loại:

Thông tin xuất bản: Karlsruhe : KIT Scientific Publishing, 2013

Mô tả vật lý: 1 electronic resource (XVIII, 194 p. p.)

Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở

ID: 230900

Control systems at production plants consist of a large number of process variables. When detecting abnormal behavior, these variables generate an alarm. Due to the interconnection of the plant's devices the fault can lead to an alarm flood. This again hides the original location of the causing device. In this work several data-driven approaches for root cause localization are proposed, compared and combined. All methods analyze disturbed process data for backtracking the propagation path.
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH