Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits

• Tác giả: Krishnendu Chakrabarty, Sandeep K Goel
• Ngôn ngữ: eng
• ISBN: 9781439829417 (hardcover : alk. paper)
• Ký hiệu phân loại: 621.39732 Electrical, magnetic, optical, communications, computer engineering; electronics, lighting
• Mô tả vật lý: xv, 247 pages : , illustrations ; , 24 cm.
• Bộ sưu tập: Khoa học ứng dụng
• ID: 273600
• Chủ đề: 1. Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing

Includes bibliographical references (pages 215-222) and index.