ỨNG DỤNG ĐẦU DÒ GAMMA NaI(Tl) – SILICON PHOTOMULTIPLIER (SiPM) TRONG CHỤP ẢNH CẮT LỚP ĐIỆN TOÁN CẤU HÌNH MỘT NGUỒN

ỨNG DỤNG ĐẦU DÒ GAMMA NaI(Tl) – SILICON PHOTOMULTIPLIER (SiPM) TRONG CHỤP ẢNH CẮT LỚP ĐIỆN TOÁN CẤU HÌNH MỘT NGUỒN – MỘT ĐẦU DÒ

0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Đặng Nguyễn Thế Duy, Hải Lại Viết, Đặng Quốc Triệu

Ngôn ngữ: vie

Ký hiệu phân loại:

Thông tin xuất bản: Tạp chí Khoa học - Đại học Thủ Dầu Một, 2022

Mô tả vật lý: tr.45726

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 331569

Thêm vào giỏ Liên kết toàn văn

Chụp cắt lớp điện toán kiểm tra khuyết tật trong công nghiệp là kỹ thuật sử dụng tia bức xạ để tạo ra hình ảnh cấu trúc 3D bên trong của đối tượng tầm soát từ các ảnh chiếu từng phần 2D dựa trên thuật toán tái tạo hình ảnh. Trong đó, hệ chụp cắt lớp điện toán công nghiệp sử dụng đầu dò NaI(Tl) kết hợp ống nhân quang (PMT) gặp nhiều hạn chế như không sử dụng được trong điều kiện môi trường có từ trường, PMT được chế tạo từ ống thủy tinh chân không nên rất dễ vỡ, sử dụng cao thế để hoạt động làm cho hệ đo trở nên tốn kém. Nhằm cải tiến độ bền cơ học và tính thích ứng với điều kiện làm việc công nghiệp của hệ đo, ứng dụng đầu dò NaI(Tl) kết hợp nhân quang điện silicon (SiPM) trong ghi đo bức xạ hạt nhân của hệ chụp cắt lớp điện toán đã được đề xuất trong bài báo này. Hệ đo chụp ảnh cắt lớp điện toán cấu hình một nguồn – một đầu dò, sử dụng đầu dò NaI(Tl)+SiPM để thu nhận tín hiệu được thiết lập tại Phòng thí nghiệm Điện tử của Trung tâm Ứng dụng kỹ thuật hạt nhân trong công nghiệp. Thực nghiệm đánh giá hệ đo được thực hiện bằng cách chụp ảnh cắt lớp các mẫu vật, đã chứng minh được khả năng đáp ứng của đầu dò NaI(Tl)+SiPM trong chụp ảnh cắt lớp điện toán.Industrial computed tomography in defect inspection is a technique that uses irradiation to generate 3D images of the internal structure of scanned objects from 2D partial projection images based on image reconstruction algorithms. In particular, the industrial computed tomography system using the NaI(Tl) detector combined with a photomultiplier tube (PMT) has many limitations such as being unusable in environmental conditions with the magnetic field, PMT is very fragile, using high voltage to operate making the measuring system expensive. In order to improve the mechanical strength and adaptability to industrial working conditions of the measuring system, the application of NaI(Tl) detector combined with a silicon photomultiplier (SiPM) in nuclear radiation measurement of the industrial computed tomography system was proposed in this paper. The computed tomography system with single-source and single detector configuration using NaI(Tl)+SiPM detector for the signal acquisition was established at the Electronics Laboratory of the Center for Application of Nuclear technique in Industry. Experimental evaluation of the measurement system is carried out by taking tomographic images of the specimens.

1. Đọc trực tuyến

1. Đọc trực tuyến

Tạo bộ sưu tập với mã QR