Light Field Imaging for Deflectometry

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: David Uhlig

Ngôn ngữ: eng

ISBN: KSP/1000159372

Ký hiệu phân loại:

Thông tin xuất bản: KIT Scientific Publishing 2023

Mô tả vật lý: 1 electronic resource (284 p.)

Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở

ID: 375935

Optical measurement methods are becoming increasingly important for high-precision production of components and quality assurance. The increasing demand can be met by modern imaging systems with advanced optics, such as light field cameras. This work explores their use in the deflectometric measurement of specular surfaces. It presents improvements in phase unwrapping and calibration techniques, enabling high surface reconstruction accuracies using only a single monocular light field camera.
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH