Đánh giá hiệu quả của kỹ thuật tiêm chọn lọc quanh rễ thần kinh C5-C7 dưới siêu âm

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Hoàng Văn Cường, Lê Văn Dũng, Phạm Mạnh Cường, Vũ Thị Hoa

Ngôn ngữ: Vie

Ký hiệu phân loại:

Thông tin xuất bản: Tạp chí Y học Việt Nam (Tổng hội Y học Việt Nam), 2022

Mô tả vật lý: 103-107

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 421943

 Đánh giá hiệu quả của kỹ thuật tiêm chọn lọc quanh rễ thần kinh C5-C7 dưới hướng dẫn siêu âm. Phương pháp Nghiên cứu mô tả cắt ngang, theo dõi dọc, tiến cứu 34 bệnh nhân (BN) được tiêm chọn lọc quanh rễ thần kinh (RTK) C5-C7 dưới siêu âm từ tháng 07/2021 đến tháng 07/2022 tại bệnh viện TƯQĐ 108. BN được đánh giá tai biến, biến chứng ngay sau tiêm, đánh giá hiệu quả giảm đau bằng thang điểm Visual analogue scales (VAS) và mức độ suy giảm chức năng cột sống cổ bằng thang điểm Neck Disability Index (NDI) tại thời điểm trước tiêm, sau tiêm 10 phút, sau 2 tuần, 1 tháng và 3 tháng. Kết quả Nghiên cứu được tiến hành trên 34 BN đau RTK cổ C5-C7 được tiêm chọn lọc quanh rễ, trong đó có 20 nam và 14 nữ với độ tuổi trung bình là 53,59 ± 8,67. Điểm VAS trước tiêm 8 ± 0,85, tại các thời điểm theo dõi sau tiêm 10 phút, 2 tuần, 1 tháng và 3 tháng lần lượt là 2,03 ± 1,87
  2,59 ± 1,69
  1,79 ± 1,72 và 1,29 ± 1,29 có ý nghĩa thống kê với p<
 0.001. Mức suy giảm chức năng cột sống cổ (NDI) trước tiêm là 24,91 ± 7,64, ở thời điểm sau tiêm 1 tháng và 3 tháng là 6,29 ± 5,87 và 4,35 ± 4,14, có ý nghĩa thống kê với p<
 0.001. Tỷ lệ thành công sau tiêm với điểm VAS giảm >
 50% và điểm NDI giảm >
 40% ở thời điểm 1 tháng và 3 tháng lần lượt là 91,2% và 97,1%. Trong nhóm nghiên cứu, 5 BN có biến chứng nhẹ (14,7%), trong đó gồm 3 BN chóng mặt, 1 BN chóng mặt và buồn nôn và 1 BN cường phế vị. Không có tai biến nặng sau tiêm. Kết luận Tiêm chọn lọc quanh RTK là một phương pháp an toàn, hiệu quả, đơn giản và tránh phơi nhiễm tia X để điều trị giảm đau ở BN đau RTK cổ.
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH