Biến chứng sau mổ lỗ tiểu thấp thể nặng bằng kỹ thuật Koyanagi cải biên theo Hayashi

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Nguyễn Yên Lê, Xuân Thái Ngô, Ngọc Thạch Phạm

Ngôn ngữ: vie

Ký hiệu phân loại:

Thông tin xuất bản: Tạp chí Y học Việt Nam (Tổng hội Y học Việt Nam), 2023

Mô tả vật lý: 468-474

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 426234

Xác định tỷ lệ theo từng loại biến chứng và đánh giá kết quả phẫu thuật sửa chữa sau mổ lỗ tiểu thấp thể nặng bằng kỹ thuật Koyanagi cải biên theo Hayashi. Đối tượng và phương pháp từ tháng 9 năm 2017 đến tháng 6 năm 2021, có tất cả 76 bệnh nhi được chẩn đoán miệng niệu đạo đóng thấp thể nặng và phẫu thuật tạo hình niệu đạo một thì theo kỹ thuật Koyanagi cải biên theo Hayashi. Thời gian theo dõi từ 16 - 38 tháng. Kết quả thu thập tập trung vào các biến số rò niệu đạo, hẹp miệng niệu đạo, hẹp niệu đạo, tụt miệng niệu đạo. Đánh giá kết quả phẫu thuật sửa chữa biến chứng thông qua số lần mổ sửa chữa, tỷ lệ tái phát biến chứng sau mổ, biến chứng mới xuất hiện sau lần mổ sửa chữa. Kết quả Trong 76 trường hợp được phẫu thuật, có 48 trường hợp hoàn thiện trong một lần mổ với thời gian theo dõi trung bình 24 tháng, 19 trường hợp tụt miệng niệu đạo trong đó 13 trường hợp phải mổ lần hai, 9 trường hợp rò niệu đạo, 2 trường hợp rò niệu đạo tự bít. Trong 13 trường hợp phải mổ tạo hình niệu đạo lần 2 sau mổ có 7 trường hợp tái phát tụt miệng niệu đạo phải phẫu thuật lần 3. Trong 7 trường hợp vá rò có 2 trường hợp phải vá lần thứ 3. Kết luận Kỹ thuật Koyanagi cải biên trong phẫu thuật điều trị những trường hợp miệng niệu đạo đóng thấp thể nặng có thể giảm đáng kể số lần phẫu thuật cho bệnh nhi với tỷ lệ biến chứng chấp nhận được. Tuy nhiên, phẫu thuật lần 2 cần thật sự cân nhắc trong trường hợp tụt miệng niệu đạo mà quy đầu kích thước rất nhỏ. Cũng như vá rò niệu đạo nên chọn kỹ thuật thích hợp kết hợp dùng vật liệu che phủ chắc chắn nhằm hạn chế rò tái phát.
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH