Sai lệch xương loại III được coi là một rối loạn phức hợp sọ - mặt phức tạp, có thể là biểu hiện sự nhô ra của hàm dưới hoặc hàm trên lùi sau hoặc kết hợp cả hai. Sự hiểu biết về đặc điểm tăng trưởng sọ mặt, đặc biệt cấu trúc xương hàm dưới ở nhóm bệnh nhân này sẽ giúp bác sĩ xác định được thời gian và cơ học điều trị. Nghiên cứu nhằm mục đích mô tả đặc điểm xương hàm dưới trên phim Cephalometrics ở bệnh nhân sai lệch xương loại III tại Viện Đào tạo Răng Hàm Mặt - Trường Đại học Y Hà Nội. Phim sọ nghiêng từ xa trước điều trị của 70 bệnh nhân từ 18 tuổi trở lên, không có tiền sử chấn thương hoặc dị tật vùng hàm mặt, được đo đạc, phân tích và chia thành các nhóm kiểu mặt ngắn, trung bình, dài. Kết quả trong các nguyên nhân gây sai lệch xương loại III, nguyên nhân do quá phát xương hàm dưới chiếm 55.72%, tiếp đến là nguyên nhân do kém phát triển xương hàm trên và với 17.14% là do kết hợp kém phát triển xương hàm trên và quá phát xương hàm dưới. Trong số bệnh nhân tham gia nghiên cứu , 37 người có kiểu mặt trung bình, 19 bệnh nhân có kiểu mặt ngắn và bệnh nhân có kiểu mặt dài là 14 người. Các đặc điểm về chiều dài cành cao, chiều dài nền xương và chiều dài Co-Gn ở nhóm bệnh nhân nam lớn hơn giá trị tương ứng ở nhóm nữ giới.