Nghiên cứu xác định đường đi của vết nứt của mẫu thử vật liệu hàn bằng phương pháp tương quan ảnh số và phần tử hữu hạn

0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Văn Dương Lê, Quang Bảng Tào

Ngôn ngữ: vie

Ký hiệu phân loại: 621.3815 Electrical, magnetic, optical, communications, computer engineering; electronics, lighting

Thông tin xuất bản: Tạp chí Khoa học và Công nghệ Đại học Đà Nẵng, 2020

Mô tả vật lý: 60-63

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 435301

Thêm vào giỏ Liên kết toàn văn

Đối với các thiết bị điện tử, mối hàn liên kết giữa các chi tiết là phần dể bị hư hỏng nhất trong quá trình làm việc. Vì vậy, việc chẩn đoán hư hỏng của mối hàn đặc biệt là xác định được đường đi của vết nứt có ý nghĩa rất quan trọng để chi tiết làm việc với tuổi thọ cao nhất. Việc phát triển kỹ thuật đo đạc phân tích vết nứt hiện đại đang rất cần thiết và đã nhận được sự quan tâm lớn của các nhà khoa học trên thế giới. Một trong những phương pháp mới được đưa ra để giải quyết vấn đề đó là phương pháp tương quan ảnh số (Digital Image Correlation) cùng với phương pháp PTHH. Vì vậy, trong bài báo này chúng tôi nghiên cứu sự phát triển của vết nứt trong chi tiết chế tạo bằng vật liệu hàn InnoLot bằng thực nghiệm và PTHH. Kết quả nghiên cứu có ý nghĩa quan trọng trong việc dự đoán sự phá hủy của vật liệu nhằm tìm cách ngăn ngừa phá hủy xảy ra.

1. Đọc trực tuyến

1. Đọc trực tuyến

Tạo bộ sưu tập với mã QR