Ảnh hưởng của thiên áp đế đến chiều dày và độ cứng của lớp màng TiN được tạo bằng công nghệ hồ quang

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Duc Luan Nguyen

Ngôn ngữ: vie

Ký hiệu phân loại: 621 Applied physics

Thông tin xuất bản: Tạp chí Khoa học và Công nghệ Trường Đại học Công nghiệp Hà Nội, 2021

Mô tả vật lý: 74-77

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 438040

Nghiên cứu nhằm mục đích khảo sát ảnh hưởng của hiệu điện thế bias đối với chiều dày và độ cứng của lớp phủ TiN được phủ lên mặt hợp kim SKD61 và Silic. Độ dày của các lớp phủ được phát hiện bằng cách kiểm tra hình ảnh của kính hiển vi quang học trên mặt cắt ngang. Thử nghiệm độ cứng của Vicker được thực hiện tại bốn điểm ngẫu nhiên đối với đầu đo hợp kim zirconium. Lớp phủ TiN hợp kim SKD61 có độ cứng lớn nhất 2620HV đạt được ở hiệu điện thế bias là -300V và độ dày khoảng 1,96 micormet đã đạt được ở hiệu điện thế bias là -100V
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH