Các cơ chế vật lí kiểm soát sự tái va chạm nhiều lần của quá trình ion hóa kép không liên tiếp.

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Ngọc Uyên Lê, Hồng Hạnh Nguyễn, Nguyễn Thành Vinh Phạm, Đặng Hoài Thu Trương

Ngôn ngữ: vie

Ký hiệu phân loại: 539.7 Atomic and nuclear physics

Thông tin xuất bản: Tạp chí Khoa học Trường Đại học Sư phạm Thành phố Hồ Chí Minh , 2020

Mô tả vật lý: 1009-1018

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 441480

Trong bài báo này, chúng tôi sử dụng mô hình tập hợp cổ điển ba chiều để nghiên cứu vai trò của các cơ chế ion hóa trong sự tái va chạm nhiều lần của quá trình ion hóa kép không liên tiếp trong trường mạnh của nguyên tử argon. Trong nghiên cứu này, độ dài xung laser được thay đổi tương ứng với N = 4, 6, 8 chu kì quang học khi laser có bước sóng và cường độ không đổi. Các kết quả cho thấy rằng trong trường hợp laser có độ dài xung gần một chu kì, sự tái va chạm nhiều lần gần như bị loại bỏ hoàn toàn. Ngoài ra chúng tôi cũng nhận thấy khi tăng độ dài xung laser thì cơ chế ion hóa hoãn và cơ chế ion hóa trực tiếp, lần lượt tương ứng với sự kiện ion hóa kép chỉ có tái va chạm một lần và có xảy ra tái va chạm hai lần, đều tăng lên. Những khảo sát này giúp cho các nhà thực nghiệm loại bỏ các tín hiệu nhiễu do quá trình tái va chạm nhiều lần gây ra.
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH