Khảo sát sự thay đổi nhiệt độ bề mặt da khi cài kim tại huyệt răng mỗi bên tai trên người bình thường

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Phạm Minh Mẫn Bùi, Võ Quốc Kha Huỳnh, Thị Diệu Thường Trịnh

Ngôn ngữ: vie

Ký hiệu phân loại:

Thông tin xuất bản: Tạp chí Y học Việt Nam (Tổng hội Y học Việt Nam), 2023

Mô tả vật lý: 348-352

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 444280

 Nhĩ châm là một phương pháp chẩn đoán và điều trị các rối loạn về thể chất và tinh thần bằng cách kích thích các huyệt trên tai. Một số nghiên cứu chứng minh rằng các huyệt trên loa tai có mối quan hệ tương ứng với các vùng trên cơ thể. Thể châm một số huyệt trong các nghiên cứu cho thấy sự thay đổi nhiệt độ da ở các vùng tương ứng. Trong nghiên cứu này, chúng tôi khảo sát sự thay đổi nhiệt độ da tại vùng hàm dưới khi cài kim mỗi huyệt Răng trên tai mỗi bên trên người bình thường. Đối tượng và phương pháp nghiên cứu: Nghiên cứu can thiệp bắt chéo thực hiện trên 35 người tình nguyện được thực hiện tại Phòng nghiên cứu thực nghiệm Châm cứu, khoa Y học cổ truyền, Đại học Y Dược TP.HCM. Kết quả: Sau khi cài kim huyệt Răng bên trái, nhiệt độ vùng hàm dưới bên trái khác biệt có ý nghĩa thốngkê so với trước khi cài kim (p<
 0,05). Sau khi cài kim huyệt Răng bên phải, nhiệt độ vùng hàm dưới bên phải khác biệt có ý nghĩa thống kê so với trước khi cài kim (p<
 0,05). Không ghi nhận bất cứ tác dụng phụ nào khi cài kim huyệt Răng trong quá trình nghiên cứu. Kết luận: Khi cài kim huyệt Răng trên tai, nhiệt độ vùng hàm dưới cùng bên cài tăng nhiệt độ có ý nghĩa thống kê, cho thấy mối liên hệ huyệt Răng trên tai với vùng hàm.
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH