In this study, we used Monte Carlo method to simulate each separate component of the gamma scattering spectrum. The gamma rays emitted from a 137Cs source, scatter on aluminum targets and recorded by a NaI(Tl) detector. Based on the distribution characteristics of each scattering component, we propose a new method to analyze scattered gamma spectra. This method was applied for simulated spectra to estimate the material thickness gives good results.Trong nghiên cứu này, chúng tôi sử dụng phương pháp Monte Carlo để mô phỏng từng thành phần riêng biệt của phổ gamma tán xạ. Chùm tia gamma phát ra từ nguồn 137Cs, tán xạ trên bia nhôm và được ghi nhận bởi đầu dò NaI(Tl). Dựa vào đặc trưng phân bố của từng thành phần tán xạ, chúng tôi đề xuất một phương pháp mới để xử lý phổ gamma tán xạ bằng cách tách phổ này thành ba thành phần: tán xạ một lần, tán xạ hai lần và tán xạ nhiều hơn hai lần. Áp dụng phương pháp này để tính toán bề dày vật liệu với các phổ mô phỏng cho kết quả khá tốt.