Công nghệ kiểm tra không phá huỷ (ndt): ứng dụng và nhu cầu.

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Sang Huỳnh

Ngôn ngữ: vie

Ký hiệu phân loại: 620.5 Nanotechnology

Thông tin xuất bản: Khoa học & phát triển (Đà Nẵng), 2009

Mô tả vật lý: 25-29

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 512757

Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH