Khảo sát độ chính xác nắn chỉnh hình học ảnh vệ tinh ikonos khu vực hà nội

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Văn Trung Nguyễn

Ngôn ngữ: vie

Ký hiệu phân loại: 526.98 Topographic surveying

Thông tin xuất bản: Tuyển tập báo cáo hội nghị khoa học lần thứ 17 - Trường Đại học Mỏ-Địa chất, 2006

Mô tả vật lý: 84-89

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 518395

Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH