Mirror-Image Artifact Due to Insulation Breach on Adjacent Leads.

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Fatima M Ezzeddine, Paul A Friedman, Ammar M Killu, Siva K Mulpuru, Alan Sugrue, Charles D Swerdlow

Ngôn ngữ: eng

Ký hiệu phân loại: 629.8042 Automatic control engineering

Thông tin xuất bản: United States : JACC. Clinical electrophysiology , 2025

Mô tả vật lý:

Bộ sưu tập: NCBI

ID: 552104

Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 36225755 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH