Ảnh hưởng của lớp phân biên và định hướng của đế si lên sự phân bố mật độ trạng thái bẫy bề mặt trong cấu trúc mos (pt/gd2o3/si)

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Hữu Bắc Lương, Đức Chiến Nguyễn, Văn Toàn Phí, T.N Liên Trương

Ngôn ngữ: vie

Ký hiệu phân loại: 537.622 Semiconductivity

Thông tin xuất bản: Tuyển tập các báo cáo: Hội nghị Vật lý chất rắn toàn quốc lần thứ 5 - Hội Vật lý Việt Nam, 2007

Mô tả vật lý: 495-498

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 599006

Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH