Sử dụng phương pháp hồi quy trong kiểm tra và chẩn đoán các thiết bị rf mems

• Tác giả: Hoàng Nam Nguyễn, Mir Salvador
• Ngôn ngữ: vie
• Ký hiệu phân loại: 621.381 Electronics
• Thông tin xuất bản: Hội nghị khoa học Kỹ thuật Đo lường toàn quốc lần thứ V, 2010
• Mô tả vật lý: 367-372
• Bộ sưu tập: Metadata
• ID: 614032