Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis

• Tác giả: Sergei N Magonov, Myung-Hwan Whangbo
• Ngôn ngữ: eng
• ISBN-10: 3527293132
• Ký hiệu phân loại: 620.44 Surface engineering
• Thông tin xuất bản: Weinheim ; New York : VCH, 1996.
• Mô tả vật lý: xii, 323 p. : , ill. ; , 25 cm.
• Bộ sưu tập: Khoa học ứng dụng
• ID: 65213
• Chủ đề: 1. Atomic force microscopy; 2. Electric insulators and insulation--Testing; 3. Metals--Surfaces; 4. Scanning tunneling microscopy; 5. Semiconductors--Testing; 6. Surfaces (Technology)--Analysis

Includes bibliographical references and index.