High performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test

• Tác giả: R. Dean Adams
• Ngôn ngữ: eng
• ISBN-10: 1402072554
• Ký hiệu phân loại: 621.39 Computer engineering
• Thông tin xuất bản: Boston : Kluwer Academic, 2003
• Mô tả vật lý: xiii, 246 p. : , ill. ; , 25 cm.
• Bộ sưu tập: Khoa học ứng dụng
• ID: 65279
• Chủ đề: 1. Computer storage devices--Testing; 2. Semiconductor storage devices--Testing

Includes bibliographical references (p. [229]-239) and index.