Đo lường tâm sâu trong bán dẫn pha tạp bằng kỹ thuạt đo đa điểm với các hệ số tương quan từ nhị thức âm

• Tác giả: Nam Nhật Hoàng, Quốc Triệu Phạm
• Ngôn ngữ: vie
• Ký hiệu phân loại: 621.381 Electronics
• Thông tin xuất bản: Hội nghị Khoa học Kỹ thuật Đo lường toàn quốc, 2005
• Mô tả vật lý: 240-244
• Bộ sưu tập: Metadata
• ID: 659791