Nghiên cứu xác định các tạp chất bằng icp-ms sau khi tách chúng khỏi zr (iv) bằng phương pháp chiết dung môi với tbp/toluen

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Mạnh Nhương Chu, Thị Mai Phương Nguyễn, Văn Trung Nguyễn

Ngôn ngữ: vie

Ký hiệu phân loại: 543.4 Electrochemical analysis

Thông tin xuất bản: Khoa học công nghệ Việt Nam, 2017

Mô tả vật lý: 45296

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 660738

Bài báo giới thiệu các kết quả nghiên cứu khả năng chiết Zr(IV) bằng tributyl photphat (TBP) thông qua phổ hồng ngoại và phổ tử ngoại của muối Zr(IV), dung môi TBP-toluen và phức Zr-TBP-toluen. Kết quả nghiên cứu cũng chỉ ra ảnh hưởng của nồng độ HNO, đến hiệu suất chiết Zr(IV) và các nguyên tố tạp chất khác bằng TBP trong toluen. Với hệ chiết (Zr(IV) 20,5g/ml và các tạp chất), khi sử dụng dung môi TBP 50 phần trăm toluen, qua 1 lần chiết trong môi trường HNO3 8M và 2-3 lần giải chiết bằng môi trường HNO3 10M, đã tách và thu hồi được (95-100 phần trăm) sẽ không gây ảnh hưởng đến phép xác định các nguyên tố tạp chất bằng ICP-MS. Hệ chiết này có khả năng ứng dụng cao vào quy trình tách Zr(IV) và xác định tạp chất trong các vật liệu zirconi độ sạch hạt nhân và độ sạch cao bằng phép đo ICP-MS.
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH