Một phương pháp mới tìm khoảng mật độ hậu nghiệm cao nhất và ứng dụng

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Thanh Hoa Lê, Đình Thiên Nguyễn, Hoàng Yên Phạm

Ngôn ngữ: vie

Ký hiệu phân loại: 720 Architecture

Thông tin xuất bản: Tạp chí Phát triển kinh tế, 2017

Mô tả vật lý: 79-120

Bộ sưu tập: Metadata

ID: 670248

Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 36225755 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH