Influence of Measurement Geometry and Blank on Absolute Measurements of Photoluminescence Quantum Yields of Scattering Luminescent Films.

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Ahmad Bardan, Saskia Fiedler, Florian Frenzel, Arne Güttler, Ute Resch-Genger, Christian Würth

Ngôn ngữ: eng

Ký hiệu phân loại:

Thông tin xuất bản: United States : Analytical chemistry , 2025

Mô tả vật lý:

Bộ sưu tập: NCBI

ID: 722954

For a series of 500 μm-thick polyurethane films containing different concentrations of luminescent and scattering YAG:Ce microparticles, we systematically explored and quantified pitfalls of absolute measurements of photoluminescence quantum yields (Φ
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 36225755 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH