Modeling nanoscale imaging in electron microscopy / Thomas Vogt, Wolfgang Dahmen, Peter Binev, editors.

0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Peter G Binev, Wolfgang Dahmen, Thomas Vogt

Ngôn ngữ: eng

ISBN-10: 146142190X

ISBN-13: 978-1461421900

Ký hiệu phân loại: 502.825 Electron microscopes

Thông tin xuất bản: New York : Springer, 2012

Mô tả vật lý: ix, 182 p. : , ill. (some col.) ;

Bộ sưu tập: Khoa học tự nhiên

ID: 79678

Thêm vào giỏ

1. Image analysis
2. Scanning transmission electron microscopy--Simulation methods

Includes bibliographical references and index.

1.

Tạo bộ sưu tập với mã QR