Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections

• Tác giả: Cher Ming Tan
• Ngôn ngữ: eng
• ISBN-10: 0857293095
• ISBN-13: 978-0857293091
• ISBN-13: 978-0857293107
• Ký hiệu phân loại: 621.395 Circuitry
• Thông tin xuất bản: London ; New York : Springer, 2011
• Mô tả vật lý: vii, 150 p. : , ill. (some col.) ; , 24 cm.
• Bộ sưu tập: Khoa học ứng dụng
• ID: 93272
• Chủ đề: 1. Finite element method; 2. Integrated circuits--Ultra large scale integration; 3. Reliability (Engineering)

Includes bibliographical references and index.