Loại tài liệu:
Chỉ tìm trong:
21-30 trong số 68 kết quả
|
Electron Ptychography for Atom-by-Atom Quantification of 1D Defect Complexes in Monolayer MoS
|
|
Tác giả:
Leyi Loh, Shoucong Ning, Daria Kieczka, Yuan Chen, Jianmin Yang, Zhe Wang, Stephen J Pennycook, Goki Eda, Alexander L Shluger, Michel Bosman
|
|
Xuất bản:
United States:
ACS nano
,
2025
|
|
Bộ sưu tập:
NCBI
|
|
|
|
|