Loại tài liệu:    Chỉ tìm trong: 
Tìm được 6 kết quả
A versatile machine learning workflow for high-throughput analysis of supported metal catalyst particles
Tác giả: Arda Genc, Justin Marlowe, Anika Jalil, Daniel Belzberg, Libor Kovarik, Phillip Christopher
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc: 
 
Quantifying elemental colocation in nanostructured materials using energy-dispersive X-ray spectroscopy
Tác giả: Kristiaan H Helfferich, Johannes D Meeldijk, Marijn A van Huis, Jessi E S van der Hoeven, Petra E de Jongh
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc: 
 
Commonsense and common nonsense opinions: PROSPECTS for further reducing beam damage in electron microscopy of radiation...
Tác giả: Robert M Glaeser
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc: 
 
Using non-parametric statistical testing to quantify solute clustering in atom probe reconstructions
Tác giả: William J Davids, Mengwei He, Huma Bilal, Andrew J Breen, Simon P Ringer
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc: 
 
Erratum to "The impact of electric field strength on the accuracy of boron dopant quantification in silicon using atom p...
Tác giả: Bavley Guerguis, Ramya Cuduvally, Richard J H Morris, Gabriel Arcuri, Brian Langelier, Nabil Bassim
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc: 
 
Dynamical diffraction effects of inhomogeneous strain fields investigated by scanning convergent electron beam diffracti...
Tác giả: L Niermann, T Niermann, M Lehmann
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc: 
 
1

Truy cập nhanh danh mục