Vietnam English Japanese
 Đăng nhập
 Thông tin tài khoản Đăng xuất
0
Loại tài liệu:    Chỉ tìm trong: 
Tìm được 13 kết quả
Erratum to "The impact of electric field strength on the accuracy of boron dopant quantification in silicon using atom p...
Tác giả: Bavley Guerguis, Ramya Cuduvally, Richard J H Morris, Gabriel Arcuri, Brian Langelier, Nabil Bassim
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc: 
 Thêm vào giỏ
 
Negative stain TEM imaging of native spider silk protein superstructures
Tác giả: Hannah R Johnson, Anikin Rae Domingo, Legend Foster, Gregory P Holland
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  799.31
 Thêm vào giỏ
 
aquaDenoising: AI-enhancement of in situ liquid phase STEM video for automated quantification of nanoparticles growth
Tác giả: Adrien Moncomble, Damien Alloyeau, Hakim Amara, Riccardo Gatti, Abdelali Khelfa, Romain Moreau, Maxime Moreaud, Jaysen Nelayah, Nathaly Ortiz-Peña, Christian Ricolleau, Guillaume Wang
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc: 
 Thêm vào giỏ
 
Acquisition of object and temperature series in medium resolution off-axis electron holography with live drift correctio...
Tác giả: Thibaud Denneulin, Rafal E Dunin-Borkowski, Michael Feuerbacher, Wen Shi, Joseph Vas, Luyan Yang, Benjamin Zingsem
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc: 
 Thêm vào giỏ
 
Bi-directional LEEM and eV-TEM spectroscopy on a graphene-hBN heterostack
Tác giả: Peter S Neu, Eugene E Krasovskii, Rudolf M Tromp, Sense Jan van der Molen
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc: 
 Thêm vào giỏ
 
Direct observation of oxygen vacancy ordering evolution in cerium oxide at varying concentrations via high-resolution tr...
Tác giả: Yong Ding, Yu Chen, Meilin Liu, Yuzi Liu, Zhong Lin Wang
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  623.7345
 Thêm vào giỏ
 
A versatile machine learning workflow for high-throughput analysis of supported metal catalyst particles
Tác giả: Arda Genc, Justin Marlowe, Anika Jalil, Daniel Belzberg, Libor Kovarik, Phillip Christopher
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  809.008
 Thêm vào giỏ
 
Quantifying elemental colocation in nanostructured materials using energy-dispersive X-ray spectroscopy
Tác giả: Kristiaan H Helfferich, Johannes D Meeldijk, Marijn A van Huis, Jessi E S van der Hoeven, Petra E de Jongh
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  577.554
 Thêm vào giỏ
 
Commonsense and common nonsense opinions: PROSPECTS for further reducing beam damage in electron microscopy of radiation...
Tác giả: Robert M Glaeser
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  704.9481
 Thêm vào giỏ
 
Using non-parametric statistical testing to quantify solute clustering in atom probe reconstructions
Tác giả: William J Davids, Mengwei He, Huma Bilal, Andrew J Breen, Simon P Ringer
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  785.13
 Thêm vào giỏ
 
1 2 Tiếp

Truy cập nhanh danh mục

Media
Đồ án TN ĐH-CĐ
Tài liệu điện tử
Truy cập mở
Nghiên cứu khoa học
Sách giáo trình
Báo-Tạp chí
Metadata
Sách tra cứu
Luận văn Thạc sĩ
Luận án Tiến sĩ
Sách tham khảo