Loại tài liệu:    Chỉ tìm trong: 
Tìm được 13 kết quả
Negative stain TEM imaging of native spider silk protein superstructures
Tác giả: Hannah R Johnson, Anikin Rae Domingo, Legend Foster, Gregory P Holland
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  415.0182
 
aquaDenoising: AI-enhancement of in situ liquid phase STEM video for automated quantification of nanoparticles growth
Tác giả: Adrien Moncomble, Damien Alloyeau, Hakim Amara, Riccardo Gatti, Abdelali Khelfa, Romain Moreau, Maxime Moreaud, Jaysen Nelayah, Nathaly Ortiz-Peña, Christian Ricolleau, Guillaume Wang
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  005.16
 
Acquisition of object and temperature series in medium resolution off-axis electron holography with live drift correctio...
Tác giả: Thibaud Denneulin, Rafal E Dunin-Borkowski, Michael Feuerbacher, Wen Shi, Joseph Vas, Luyan Yang, Benjamin Zingsem
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  025.343
 
Bi-directional LEEM and eV-TEM spectroscopy on a graphene-hBN heterostack
Tác giả: Peter S Neu, Eugene E Krasovskii, Rudolf M Tromp, Sense Jan van der Molen
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  220.5206
 
Direct observation of oxygen vacancy ordering evolution in cerium oxide at varying concentrations via high-resolution tr...
Tác giả: Yong Ding, Yu Chen, Meilin Liu, Yuzi Liu, Zhong Lin Wang
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  005.742
 
Dynamical diffraction effects of inhomogeneous strain fields investigated by scanning convergent electron beam diffracti...
Tác giả: L Niermann, T Niermann, M Lehmann
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  553.453
 
A versatile machine learning workflow for high-throughput analysis of supported metal catalyst particles
Tác giả: Arda Genc, Justin Marlowe, Anika Jalil, Daniel Belzberg, Libor Kovarik, Phillip Christopher
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  636.0824
 
Quantifying elemental colocation in nanostructured materials using energy-dispersive X-ray spectroscopy
Tác giả: Kristiaan H Helfferich, Johannes D Meeldijk, Marijn A van Huis, Jessi E S van der Hoeven, Petra E de Jongh
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  577.554
 
Commonsense and common nonsense opinions: PROSPECTS for further reducing beam damage in electron microscopy of radiation...
Tác giả: Robert M Glaeser
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  704.9481
 
Using non-parametric statistical testing to quantify solute clustering in atom probe reconstructions
Tác giả: William J Davids, Mengwei He, Huma Bilal, Andrew J Breen, Simon P Ringer
Xuất bản: Netherlands: Ultramicroscopy , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  785.13
 
1 2 Tiếp

Truy cập nhanh danh mục