Loại tài liệu:    Chỉ tìm trong: 
Tìm được 21 kết quả
Measuring Colloidal Forces With Atomic Force Microscopy 1: Salt Influence on Hydrophobic and Hydrophilic Interactions
Tác giả: Luis N Ponce-Gonzalez, Wisnu Arfian A Sudjarwo, José L Toca-Herrera
Xuất bản: United States: Microscopy research and technique , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  070.48346
 
Atomic force microscopy in cell biology
Tác giả: J K Hein Hörber, Bhan Jena
Xuất bản: San Diego: Academic Press , 2002
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
eBook (pdf)
ddc:  571.60282
 
Combining Electrochemical Scanning Tunneling Microscopy with Force Microscopy
Tác giả: Andrea Auer, Franz J Giessibl, Julia Kunze-Liebhäuser
Xuất bản: United States: ACS nano , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  006.312
 
Atomic force microscopy imaging of plant cell walls
Tác giả: Junbao Pu, Jie Ma, Hang Zhai, Shanshan Wu, Youmei Wang, Christine V Putnis, Lijun Wang, Wenjun Zhang
Xuất bản: United States: Plant physiology , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  543.52
 
Atomic Force Microscopy: A Versatile Tool in Cancer Research
Tác giả: Francesca Persano, Alessandro Parodi, Tatiana Pallaeva, Ekaterina Kolesova, Andrey A Zamyatnin, Vadim S Pokrovsky, Valeria De Matteis, Stefano Leporatti, Mariafrancesca Cascione
Xuất bản: Switzerland: Cancers , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  543.52
 
Force Volume Atomic Force Microscopy-Infrared for Simultaneous Nanoscale Chemical and Mechanical Spectromicroscopy
Tác giả: Martin Wagner, Alexandre Dazzi, Peter De Wolf, Alireza Fali, Qichi Hu, Shuiqing Hu, Chunzeng Li, Jérémie Mathurin, Cassandra Phillips, Bede Pittenger, Chanmin Su, Weijie Wang
Xuất bản: United States: ACS nano , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  543.52
 
Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces
Tác giả: Thilo Glatzel, Sascha Sadewasser
Xuất bản: Heidelberg ; New York: Springer-Verlag , 2012
Bộ sưu tập: Khoa học tự nhiên
eBook (pdf)
ddc:  502.82
 
Bimodal Atomic Force Microscopy with a Torsional Eigenmode for Highly Accurate Imaging of Grain Orientation in Organic Thin Films
Tác giả: Rodrigo Arilla, Esther Barrena, Carmen Ocal, Daniel Martin-Jimenez
Xuất bản: United States: Nano letters , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  543.52
 
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3 [electronic resource]
Tác giả: Samuel H Cohen, Marcia L Lightbody
Xuất bản: New York, NY: Springer US : Imprint: Springer , 2002.
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
eBook (pdf)
ddc:  620.112
 
Kelvin Probe Force Microscopy Imaging of Plasticity in Hydrogenated Perovskite Nickelate Multilevel Neuromorphic Devices
Tác giả: Tamal Dey, Xinyuan Lai, Duygu Kuzum, Catherine Schuman, Shriram Ramanathan, Sukriti Manna, Karan Patel, Ranjan Kumar Patel, Ravindra Singh Bisht, Yue Zhou, Shaan Shah, Eva Y Andrei, Subramanian K R S Sankaranarayanan
Xuất bản: United States: ACS nano , 2025
Bộ sưu tập: NCBI
ddc:  005.52
 
1 2 3 Tiếp

Truy cập nhanh danh mục