Loại tài liệu:    Chỉ tìm trong: 
11-20 trong số 32 kết quả
Advances in optical surface texture metrology
Tác giả: R K Leach
Xuất bản: Bristol England Temple Circus Temple Way Bristol BS1 6HG UK: IOP Publishing, 2020
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
eBook (pdf)
ddc:  681.25
 
Truth and traceability in physics and metrology
Tác giả: Michael Grabe
Xuất bản: San Rafael California 40 Oak Drive San Rafael CA 94903 USA: Morgan Claypool Publishers, 2018
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
ddc:  530.8
 
Nanometrology using the transmission electron microscope
Tác giả: Vlad Stolojan
Xuất bản: Bristol England Temple Circus Temple Way Bristol BS1 6HG UK: IOP Publishing, 2015
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
eBook (pdf)
ddc:  620.5
 
Vìsnik Nacìonalʹnogo Tehnìčnogo Unìversitetu Ukraïni Kììvsʹkij Polìtehnìčnij Ìnstitut: Serìâ Radìotehnìka, Radìoaparatob...
Tác giả:
Xuất bản: : Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute, 2017
Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
ddc: 
 
Advanced Photonics
Tác giả:
Xuất bản: : SPIE Chinese Laser Press, 2019
Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
ddc: 
 
International Journal of Metrology and Quality Engineering
Tác giả:
Xuất bản: : EDP Sciences, 2017
Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
ddc: 
 
IEEE Open Journal of Instrumentation and Measurement
Tác giả:
Xuất bản: : IEEE, 2023
Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
ddc: 
 
Quantum Reports
Tác giả:
Xuất bản: : MDPI AG, 2020
Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
ddc: 
 
Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology
Tác giả:
Xuất bản: : The National Institute of Standards and Technology, 2003
Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
ddc: 
 
Standartnye Obrazcy
Tác giả:
Xuất bản: : Ural Research Institute of Metrology, 2017
Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
ddc: 
 

Truy cập nhanh danh mục