Loại tài liệu:    Chỉ tìm trong: 
101-110 trong số 287 kết quả
Power-system reliability calculations
Tác giả: Roy Billinton, Robert J Ringlee, Allen J Wood
Xuất bản: Cambridge Massachusetts: MIT Press, 1973
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
ddc:  621.319
 
Digital communication over fading channels
Tác giả: Marvin Kenneth Simon, Mohamed-Slim Alouini
Xuất bản: Hoboken New Jersey: John Wiley Sons, 2005
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
ddc:  621.382
 
Risk assessment of power systems : models, methods, and applications
Tác giả: Wenyuan Li
Xuất bản: Piscataway New Jersey: IEEE Press, 2005
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
ddc:  621.3191
 
Accelerated stress testing handbook : guide for achieving quality products
Tác giả: H Anthony Chan, Paul J Englert
Xuất bản: New York: IEEE Press, 2001
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
ddc:  620.00452
 
Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits
Tác giả: Ming-Dou Ker, Sheng-Fu Hsu
Xuất bản: Singapore: Wiley, 2009
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
ddc:  621.395
 
Models for Battery Reliability and Lifetime [electronic resource]
Tác giả:
Xuất bản: Golden Colo Oak Ridge Tenn: National Renewable Energy Laboratory US Distributed by the Office of Scientific and Technical Information US Dept of Energy, 2014
Bộ sưu tập: Metadata
ddc:  621.312
 
Recent Changes to U.S. Coal Plant Operations and Current Compensation Practices [electronic resource]
Tác giả:
Xuất bản: Washington DC Oak Ridge Tenn: United States Office of the Assistant Secretary of Energy for Fossil Energy Distributed by the Office of Scientific and Technical Information US Dept of Energy, 2020
Bộ sưu tập: Metadata
ddc:  333.79
 
Service quality of cloud-based applications
Tác giả: Eric Bauer, Randee Adams
Xuất bản: Hoboken New Jersey: Wiley, 2014
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
ddc:  004.6782
 
Cloud Computing [electronic resource] : Principles, Systems and Applications
Tác giả: Nick Antonopoulos, Lee Gillam
Xuất bản: Cham: Springer International Publishing Imprint Springer, 2017
Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
eBook (pdf)
ddc:  004.24
 
Impact of Accelerated StressTests on SiC MOSFET Precursor Parameters [electronic resource] : Preprint
Tác giả:
Xuất bản: Washington DC Oak Ridge Tenn: United States Office of the Assistant Secretary of Energy Efficiency and Renewable Energy Distributed by the Office of Scientific and Technical Information US Dept of Energy, 2018
Bộ sưu tập: Metadata
ddc:  621.43
 

Truy cập nhanh danh mục