Loại tài liệu:
Chỉ tìm trong:
41-50 trong số 706 kết quả
Electron Ptychography for Atom-by-Atom Quantification of 1D Defect Complexes in Monolayer MoS
|
|
Tác giả:
Leyi Loh, Shoucong Ning, Daria Kieczka, Yuan Chen, Jianmin Yang, Zhe Wang, Stephen J Pennycook, Goki Eda, Alexander L Shluger, Michel Bosman
|
Xuất bản:
United States:
ACS nano
,
2025
|
Bộ sưu tập:
NCBI
|
|
|