Truth and traceability in physics and metrology
	Tác giả: Michael Grabe
	Xuất bản: San Rafael [California] (40 Oak Drive, San Rafael, CA, 94903, USA: Morgan & Claypool Publishers , 2018
	Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
	ddc:  530.8  Thêm vào giỏ

Nanometrology using the transmission electron microscope
	Tác giả: Vlad Stolojan
	Xuất bản: Bristol [England] (Temple Circus, Temple Way, Bristol BS1 6HG, UK: IOP Publishing , 2015
	Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
	eBook (pdf) ddc:  620.5  Thêm vào giỏ

Vìsnik Nacìonalʹnogo Tehnìčnogo Unìversitetu Ukraïni Kììvsʹkij Polìtehnìčnij Ìnstitut: Serìâ Radìotehnìka, Radìoaparatob...
	Tác giả:
	Xuất bản: Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute , 2017
	Bộ sưu tập: Báo giấy
	ddc:   Thêm vào giỏ

Advanced Photonics
	Tác giả:
	Xuất bản: SPIE; Chinese Laser Press , 2019
	Bộ sưu tập: Báo giấy
	ddc:   Thêm vào giỏ

Standartnye Obrazcy
	Tác giả:
	Xuất bản: Ural Research Institute of Metrology , 2017
	Bộ sưu tập: Báo giấy
	ddc:   Thêm vào giỏ

Metrology and Measurement Systems
	Tác giả:
	Xuất bản: Polish Academy of Sciences , 2015
	Bộ sưu tập: Báo giấy
	ddc:   Thêm vào giỏ

Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology
	Tác giả:
	Xuất bản: The National Institute of Standards and Technology , 2003
	Bộ sưu tập: Báo giấy
	ddc:   Thêm vào giỏ

International Journal of Metrology and Quality Engineering
	Tác giả:
	Xuất bản: EDP Sciences , 2017
	Bộ sưu tập: Báo giấy
	ddc:   Thêm vào giỏ

Quantum Reports
	Tác giả:
	Xuất bản: MDPI AG , 2020
	Bộ sưu tập: Báo giấy
	ddc:   Thêm vào giỏ

Quantum metrology with photoelectrons. Volume 1, Foundations
	Tác giả: Paul Hockett
	Xuất bản: Bristol [England] (Temple Circus, Temple Way, Bristol BS1 6HG, UK: IOP Publishing , 2018
	Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
	eBook (pdf) ddc:  389.1  Thêm vào giỏ