Advances in optical surface texture metrology
	Tác giả: R K Leach
	Xuất bản: Bristol England Temple Circus Temple Way Bristol BS1 6HG UK: IOP Publishing, 2020
	Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
	eBook (pdf) ddc:  681.25  Thêm vào giỏ

Truth and traceability in physics and metrology
	Tác giả: Michael Grabe
	Xuất bản: San Rafael California 40 Oak Drive San Rafael CA 94903 USA: Morgan Claypool Publishers, 2018
	Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
	ddc:  530.8  Thêm vào giỏ

Nanometrology using the transmission electron microscope
	Tác giả: Vlad Stolojan
	Xuất bản: Bristol England Temple Circus Temple Way Bristol BS1 6HG UK: IOP Publishing, 2015
	Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở
	eBook (pdf) ddc:  620.5  Thêm vào giỏ

Vìsnik Nacìonalʹnogo Tehnìčnogo Unìversitetu Ukraïni Kììvsʹkij Polìtehnìčnij Ìnstitut: Serìâ Radìotehnìka, Radìoaparatob...
	Tác giả:
	Xuất bản: : Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute, 2017
	Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
	ddc:   Thêm vào giỏ

International Journal of Metrology and Quality Engineering
	Tác giả:
	Xuất bản: : EDP Sciences, 2017
	Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
	ddc:   Thêm vào giỏ

IEEE Open Journal of Instrumentation and Measurement
	Tác giả:
	Xuất bản: : IEEE, 2023
	Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
	ddc:   Thêm vào giỏ

Advanced Photonics
	Tác giả:
	Xuất bản: : SPIE Chinese Laser Press, 2019
	Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
	ddc:   Thêm vào giỏ

Quantum Reports
	Tác giả:
	Xuất bản: : MDPI AG, 2020
	Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
	ddc:   Thêm vào giỏ

Standartnye Obrazcy
	Tác giả:
	Xuất bản: : Ural Research Institute of Metrology, 2017
	Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
	ddc:   Thêm vào giỏ

Metrology and Measurement Systems
	Tác giả:
	Xuất bản: : Polish Academy of Sciences, 2015
	Bộ sưu tập: Báo-Tạp chí
	ddc:   Thêm vào giỏ